{"id":85389,"date":"2023-12-16T05:30:26","date_gmt":"2023-12-16T08:30:26","guid":{"rendered":"https:\/\/asmetro.org.br\/portalsn\/?p=85389"},"modified":"2023-12-16T05:30:26","modified_gmt":"2023-12-16T08:30:26","slug":"processo-seletivo-para-pos-graduacao-em-metrologia-20-vagas-para-mestrado-academico-e-10-vagas-para-doutorado","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/asmetro.org.br\/portalsn\/2023\/12\/16\/processo-seletivo-para-pos-graduacao-em-metrologia-20-vagas-para-mestrado-academico-e-10-vagas-para-doutorado\/","title":{"rendered":"Processo Seletivo para P\u00f3s-Gradua\u00e7\u00e3o em Metrologia: 20 vagas para Mestrado Acad\u00eamico e 10 vagas para Doutorado"},"content":{"rendered":"<h4 class=\"documentFirstHeading\"><em><strong>P\u00f3s-Gradua\u00e7\u00e3o em Metrologia: inscri\u00e7\u00f5es abertas at\u00e9 14 de janeiro<\/strong><\/em><\/h4>\n<p><strong>O Programa de P\u00f3s-Gradua\u00e7\u00e3o em Metrologia do Inmetro<\/strong> abriu processo seletivo para preenchimento de at\u00e9 20 vagas para o mestrado acad\u00eamico e 10 vagas para o doutorado (fluxo) cont\u00ednuo ao longo de 2024.<\/p>\n<p>Podem participar do processo seletivo candidatos com gradua\u00e7\u00e3o conclu\u00edda em cursos reconhecidos pelo MEC nas \u00e1reas das ci\u00eancias f\u00edsicas, qu\u00edmicas e biol\u00f3gicas, de tecnologia da informa\u00e7\u00e3o e comunica\u00e7\u00e3o (TIC), matem\u00e1tica, engenharia e afins.<\/p>\n<p>As inscri\u00e7\u00f5es est\u00e3o abertas at\u00e9 14 de janeiro de 2024.<\/p>\n<h3><span style=\"color: #0000ff;\"><strong>saiba mais<\/strong><\/span><\/h3>\n<h4 class=\"documentFirstHeading\"><strong>Programa de P\u00f3s-Gradua\u00e7\u00e3o em Metrologia<\/strong><\/h4>\n<div id=\"viewlet-above-content-body\">\n<div id=\"plone-document-byline\" class=\"documentByLine\">&nbsp;<\/div>\n<\/div>\n<div id=\"content-core\">\n<div id=\"parent-fieldname-text\">\n<p><img data-recalc-dims=\"1\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/i0.wp.com\/www.gov.br\/inmetro\/pt-br\/centrais-de-conteudo\/imagens\/inline-images\/pos-metrologia.jpg?w=696&#038;ssl=1\" alt=\"P\u00f3s-gradua\u00e7\u00e3o em metrologia\" data-entity-uuid=\"efbcb5ca-d401-4a5c-b355-835511b29fb5\" data-entity-type=\"file\"><\/p>\n<div>\nO Programa de P\u00f3s-Gradua\u00e7\u00e3o em Metrologia \u00e9 reconhecido pelo Minist\u00e9rio da Educa\u00e7\u00e3o por meio da Portaria N\u00ba 485, de 14\/05\/2020.<\/p>\n<\/div>\n<div>Os cursos de doutorado e mestrado acad\u00eamico em Metrologia tem por objetivo a forma\u00e7\u00e3o de profissionais habilitados a desenvolver pesquisas com medi\u00e7\u00f5es e calibra\u00e7\u00f5es que d\u00e3o suporte \u00e0s novas recomenda\u00e7\u00f5es do Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM) e aos novos desafios metrol\u00f3gicos de \u00e1reas das ci\u00eancias f\u00edsicas, qu\u00edmicas e biol\u00f3gicas com o integra\u00e7\u00e3o \u00e0s solu\u00e7\u00f5es de tecnologia da informa\u00e7\u00e3o, comunica\u00e7\u00e3o, matem\u00e1tica e engenharias.<\/div>\n<hr>\n<h3><strong>\u00c1reas de concentra\u00e7\u00e3o e linhas de pesquisa<\/strong><\/h3>\n<p><strong>\u00c1rea de Concentra\u00e7\u00e3o<\/strong><\/p>\n<p><strong>Ci\u00eancia da medi\u00e7\u00e3o e suas aplica\u00e7\u00f5es<\/strong>&nbsp;&#8211; a metrologia possui um arcabou\u00e7o de conhecimentos t\u00e9cnicos e pr\u00e1ticos que podem servir para diversas aplica\u00e7\u00f5es em \u00e1reas cient\u00edficas a partir da busca na excel\u00eancia da capacidade de medi\u00e7\u00e3o nas diversas \u00e1reas das ci\u00eancias e engenharias.<\/p>\n<p><strong>Linhas de Pesquisa<\/strong><\/p>\n<p><strong>M\u00e9todos avan\u00e7ados de medi\u00e7\u00e3o<\/strong>&nbsp;&#8211; al\u00e9m da atua\u00e7\u00e3o em metrologia cient\u00edfica e industrial, a metrologia possui aspectos de desenvolvimento de novos materiais de refer\u00eancia e novos m\u00e9todos de medi\u00e7\u00e3o em v\u00e1rias \u00e1reas de aplica\u00e7\u00e3o tecnol\u00f3gica. Como exemplo, destacamos o apoio para o desenvolvimento de m\u00e9todos de medi\u00e7\u00e3o e materiais de refer\u00eancia para ci\u00eancias forenses, dando origem a uma metrologia forense que propicia confiabilidade para as medi\u00e7\u00f5es necess\u00e1rias para essa \u00e1rea. Tamb\u00e9m s\u00e3o desenvolvidos novos m\u00e9todos de medi\u00e7\u00e3o em ultrassom com maior foco nos aspectos quantitativos da medi\u00e7\u00e3o na \u00e1rea, integrando m\u00e9todos fotoac\u00fasticos para uso em aplica\u00e7\u00f5es biom\u00e9dicas. Outro aspecto interessante dessa linha de pesquisa \u00e9 o desenvolvimento de m\u00e9todos computacionais para maior integra\u00e7\u00e3o entre as ci\u00eancias f\u00edsicas, qu\u00edmicas e biol\u00f3gicas com uso de algoritmos de gen\u00f4mica computacional.<\/p>\n<p>Os objetivos dessa linha de pesquisa s\u00e3o:<\/p>\n<ul>\n<li>Desenvolver e aprimorar m\u00e9todos de medi\u00e7\u00e3o<\/li>\n<li>Comissionar novas tecnologias em metrologia<\/li>\n<li>Realizar pesquisa pura e aplicada em metrologia<\/li>\n<\/ul>\n<p>Para atingir esses objetivos, essa Linha de pesquisa \u00e9 apoiada pelo desenvolvimento de quatro projetos:<\/p>\n<ul>\n<li>Metrologia forense<\/li>\n<li>Ultrassom quantitativo e fotoac\u00fastica<\/li>\n<li>Gen\u00f4mica computacional<\/li>\n<li>Medi\u00e7\u00e3o e processamento de imagens<\/li>\n<\/ul>\n<p><strong>Suporte ao desenvolvimento tecnol\u00f3gico industrial &#8211;&nbsp;<\/strong>a&nbsp;metrologia \u00e9 uma \u00e1rea do conhecimento importante para dar suporte ao desenvolvimento de tecnologia industrial b\u00e1sica e gerar inova\u00e7\u00e3o em novos processos. No \u00e2mbito da metrologia cient\u00edfica, \u00e9 dado apoio ao uso de refer\u00eancias metrol\u00f3gicas de acordo com a padroniza\u00e7\u00e3o das unidades do SI. No \u00e2mbito da metrologia industrial, \u00e9 propiciado o desenvolvimento de capacidades de medi\u00e7\u00e3o e calibra\u00e7\u00e3o para a dissemina\u00e7\u00e3o das unidades do SI. A metrologia tamb\u00e9m \u00e9 utilizada para desenvolvimento de tecnologias nas \u00e1reas de nanotecnologia e biotecnologia, com destaque para os m\u00e9todos de medi\u00e7\u00e3o e refer\u00eancias para a nanobiometrologia. Adicionalmente, as demandas atuais de inova\u00e7\u00e3o nos processos industriais demandam integra\u00e7\u00e3o de solu\u00e7\u00f5es de tecnologia da informa\u00e7\u00e3o e comunica\u00e7\u00e3o (TIC) aos processos metrol\u00f3gicos de controle e monitora\u00e7\u00e3o desses processos, dando suporte \u00e0 implanta\u00e7\u00e3o e desenvolvimento da Ind\u00fastria 4.0. Al\u00e9m dessas demandas, o uso de solu\u00e7\u00f5es de TIC podem auxiliar no aumento da confiabilidade dos sistemas, dispositivos e equipamentos usados para realizar medi\u00e7\u00e3o e verifica\u00e7\u00e3o nas a\u00e7\u00f5es de metrologia legal.<\/p>\n<p>Os objetivos dessa linha de pesquisa s\u00e3o:<\/p>\n<ul>\n<li>Desenvolver projetos relacionados \u00e0 padroniza\u00e7\u00e3o prim\u00e1ria<\/li>\n<li>Disseminar padr\u00f5es de medida para a ind\u00fastria<\/li>\n<li>Acompanhar a evolu\u00e7\u00e3o do estado da t\u00e9cnica da metrologia<\/li>\n<\/ul>\n<p>Para atingir esses objetivos, essa linha de pesquisa \u00e9 apoiada pelo desenvolvimento de quatro projetos:<\/p>\n<ul>\n<li>Padroniza\u00e7\u00e3o e dissemina\u00e7\u00e3o das unidades do SI<\/li>\n<li>Nanobiometrologia<\/li>\n<li>Suporte ao desenvolvimento da ind\u00fastria 4.0<\/li>\n<li>Uso de TIC para confiabilidade em sistemas de medi\u00e7\u00e3o<\/li>\n<\/ul>\n<div>\n<h4><strong><span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/www.gov.br\/inmetro\/pt-br\/assuntos\/ensino-e-pesquisa\/pos-graduacao\/pos-metrologia\/pos-metrologia-index\" target=\"_blank\" rel=\"noopener\">www.gov.br\/inmetro\/pt-br\/assuntos\/ensino-e-pesquisa\/pos-graduacao\/pos-metrologia\/pos-metrologia-index<\/a><\/span><\/strong><\/h4>\n<\/div>\n<p align=\"left\"><strong>Fonte: Inmetro 16\/12\/2023<\/strong><\/p>\n<\/div>\n<\/div>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>P\u00f3s-Gradua\u00e7\u00e3o em Metrologia: inscri\u00e7\u00f5es abertas at\u00e9 14 de janeiro O Programa de P\u00f3s-Gradua\u00e7\u00e3o em Metrologia do Inmetro abriu processo seletivo para preenchimento de at\u00e9 20 vagas para o mestrado acad\u00eamico e 10 vagas para o doutorado (fluxo) cont\u00ednuo ao longo de 2024. 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