Congresso Internacional de Metrologia 2025
O CIM – Congresso Internacional de Metrologia 2025, organizado pelo CFM, o Collège Français de Métrologie, será realizado em Lyon, França, de 11 a 14 de março de 2025 com a Global Industrie Trade Show. Os autores são convidados a submeter seus trabalhos. O tema do congresso é “ nova metrologia para uma indústria e sociedade sustentáveis ”.
Envie seu resumo de 200-500 palavras
Este resumo deverá apresentar um trabalho inovador em um dos campos científicos e tecnológicos propostos no mundo da metrologia. Pretende ser uma proposta de palestra oral ou de apresentação de poster.
Um comitê de especialistas avaliará seu resumo segundo diversos critérios: qualidade científica, grau de inovação, TRL… dependendo da sua vontade e do resultado da avaliação, você será incluído no programa como palestrante de congresso ou como autor de pôster.
Paralelamente à participação no congresso, ofereceremos a oportunidade aos palestrantes e autores que queiram publicar um artigo completo na revista científica “Measurement Science and Technology – IOP”. As diretrizes virão em breve. O prazo final será em dezembro para a submissão completa do artigo.
# PRAZO PARA ENVIO DE RESUMOS: QUARTA-FEIRA, 26 DE JUNHO DE 2024
- Marque todas as caixas e preencha os campos obrigatórios SOMENTE EM INGLÊS
- Envie seu resumo de 200-500 palavras logo abaixo
- Use um formulário por proposta de palestra ou apresentação de pôster
- Certifique-se de estar disponível pessoalmente para apresentar sua palestra ou pôster em Lyon, caso seja aprovado
- A resposta aos autores será enviada em setembro de 2024. As apresentações finais estão previstas para o início de fevereiro de 2025.
DIRETRIZES E INFORMAÇÕES
- ESCOPO: seu resumo deverá apresentar um trabalho inovador em uma das áreas científicas e tecnológicas propostas no mundo da metrologia. Consulte os temas deste ano abaixo.
- FORMATO: sua submissão deverá propor uma palestra oral ou uma apresentação em pôster.
- AVALIAÇÃO: um comitê de especialistas avaliará seu resumo com base em diversos critérios, incluindo qualidade científica, grau de inovação, TRL (Nível de Prontidão Tecnológica), etc. Dependendo dos resultados da avaliação e de sua preferência, você será incluído no programa como palestrante em congresso ou como autor de pôster.
- ARTIGO CIENTÍFICO: Além da sua contribuição no congresso, os autores terão a oportunidade de publicar um artigo completo na revista EDPSciences, caso aprovado. Orientações serão fornecidas em breve.
Saiba mais : www-cim–metrology-org.translate.goog/en/call-for-abstracts?_x_tr_sl=en&_x_tr_tl=pt&_x_tr_hl=pt-BR&_x_tr_pto=sc
# Chamada para resumos
A chamada de trabalhos para o congresso está aberta! Você tem até quarta-feira, 26 de junho de 2024, para se inscrever como palestrante.
➡️Será dada prioridade a: Temas transversais, Sensores, Transformação da Indústria 4.0, Metrologia Industrial… Descubra todos os temas procurados e submeta o seu resumo apenas em inglês na seguinte página: https://bit.ly/ Papel CIM25 .
