O Programa de Pós-Graduação em Metrologia é reconhecido pelo Ministério da Educação por meio da Portaria Nº 485, de 14/05/2020.
Áreas de concentração e linhas de pesquisa
Área de Concentração
Ciência da medição e suas aplicações – a metrologia possui um arcabouço de conhecimentos técnicos e práticos que podem servir para diversas aplicações em áreas científicas a partir da busca na excelência da capacidade de medição nas diversas áreas das ciências e engenharias.
Linhas de Pesquisa
Métodos avançados de medição – além da atuação em metrologia científica e industrial, a metrologia possui aspectos de desenvolvimento de novos materiais de referência e novos métodos de medição em várias áreas de aplicação tecnológica. Como exemplo, destacamos o apoio para o desenvolvimento de métodos de medição e materiais de referência para ciências forenses, dando origem a uma metrologia forense que propicia confiabilidade para as medições necessárias para essa área. Também são desenvolvidos novos métodos de medição em ultrassom com maior foco nos aspectos quantitativos da medição na área, integrando métodos fotoacústicos para uso em aplicações biomédicas. Outro aspecto interessante dessa linha de pesquisa é o desenvolvimento de métodos computacionais para maior integração entre as ciências físicas, químicas e biológicas com uso de algoritmos de genômica computacional.
Os objetivos dessa linha de pesquisa são:
- Desenvolver e aprimorar métodos de medição
- Comissionar novas tecnologias em metrologia
- Realizar pesquisa pura e aplicada em metrologia
Para atingir esses objetivos, essa Linha de pesquisa é apoiada pelo desenvolvimento de quatro projetos:
- Metrologia forense
- Ultrassom quantitativo e fotoacústica
- Genômica computacional
- Medição e processamento de imagens
Suporte ao desenvolvimento tecnológico industrial – a metrologia é uma área do conhecimento importante para dar suporte ao desenvolvimento de tecnologia industrial básica e gerar inovação em novos processos. No âmbito da metrologia científica, é dado apoio ao uso de referências metrológicas de acordo com a padronização das unidades do SI. No âmbito da metrologia industrial, é propiciado o desenvolvimento de capacidades de medição e calibração para a disseminação das unidades do SI. A metrologia também é utilizada para desenvolvimento de tecnologias nas áreas de nanotecnologia e biotecnologia, com destaque para os métodos de medição e referências para a nanobiometrologia. Adicionalmente, as demandas atuais de inovação nos processos industriais demandam integração de soluções de tecnologia da informação e comunicação (TIC) aos processos metrológicos de controle e monitoração desses processos, dando suporte à implantação e desenvolvimento da Indústria 4.0. Além dessas demandas, o uso de soluções de TIC podem auxiliar no aumento da confiabilidade dos sistemas, dispositivos e equipamentos usados para realizar medição e verificação nas ações de metrologia legal.
Os objetivos dessa linha de pesquisa são:
- Desenvolver projetos relacionados à padronização primária
- Disseminar padrões de medida para a indústria
- Acompanhar a evolução do estado da técnica da metrologia
Para atingir esses objetivos, essa linha de pesquisa é apoiada pelo desenvolvimento de quatro projetos:
- Padronização e disseminação das unidades do SI
- Nanobiometrologia
- Suporte ao desenvolvimento da indústria 4.0
- Uso de TIC para confiabilidade em sistemas de medição
Mais informações acesse >>> www.gov.br/inmetro/pt-br/assuntos/ensino-e-pesquisa/pos-graduacao/pos-metrologia/pos-metrologia-index
