Aconteceu em Florianópolis nos dias 24 a 27/11 o METROLOGIA 2019

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O congresso Metrologia 2019 foi realizado de 24 a 27NOV2019 no centro de convenções Centro Sul em Florianópolis, SC. O Inmetro se fez presente emprestando seus servidores para organizar diversos eventos que compõem do Metrologia 2019. Dentre eles estão Rodrigo Costa-Felix (coordenador do 10º Congresso Brasileiro de Metrologia – CBM), Iakyra Couceiro (coordenadora do III Congresso Brasileiro de Metrologia Óptica – CBMO), José Carlos Valente de Oliveira (coordenador do V Congresso Internacional de Metrologia Mecânica – CIMMEC), Vanderlea de Souza (coordenadora do IV Workshop da Rede Brasileira de Metrologia Química – REMEQ-I) e Gelson Rocha (coordenador do XIII Congresso Internacional de Metrologia Elétrica – SEMETRO). Além destes eventos, o Metrologia 2019 também foi composto pelo Congresso Brasileiro de Metrologia das Radiações Ionizantes (CBMRI), coordenador por José Guilherme Pereira Peixoto (IRD). O presidente geral do Metrologia 2019 foi Americo Bernardes, presidente da Sociedade Brasileira de Metrologia e professor da Universidade Federal de Ouro Preto.

A mesa de abertura foi composta pelo presidente da SBM, Americo Bernardes, pelo diretor de Metrologia Científica e Industrial, Valnei Cunha, pelo representante do IRD, José Guilherme Peixoto, pelo Diretor de Operações do SENAI/SC, João Roberto Lorenzett e pelo diretor do IMETRO/SC, Rudinei Floriano. A presidente do Inmetro, Angela Flores, não pode comparecer mas enviou um vídeo desejando sucesso na realização do congresso.

O Metrologia 2019 teve como atividades técnicas de abertura a palestra magna do Prof. Vanderlei Bagnato (USP de São Carlos), realizada no domingo, 24NOV, a partir das 18h. O Prof. Bagnato discorreu sobre os desafios da saúde e soluções com uso de óptica. De maneira eloquente e muito didática, diversos casos de novos diagnósticos e tratamentos com uso de luz foram apresentados, sempre sendo destacada a importância da Metrologia para se conseguir resultados mais confiáveis.

Na manhã do dia 25NOV, os trabalhos iniciaram-se com a palestra plenária do Dr. Jonny Doin, da GridVortex, empresa especializa em segurança cibernética. A clara exposição do palestrante deixou evidente para a audiência que a metrologia será fundamental para a nova realidade que se avizinha no tocante à comunicação no mundo em transformação digital. A Indústria 4.0 precisa de Segurança Cibernética 4.0. Para isso, a Metrologia 4.0 será elemento fundamental para assegurar a integridade dos dados e a devida comunicação entre as partes interessadas.

Ainda na manhã de 25NOV, o Dr. Cesar Augusto Botura, do IFI/ITA apresentou detalhadamente o Sistema de Metrologia Aeroespacial – SISMETRA. O sistema compreende uma estrutura presente em todo território nacional, sendo constituída de laboratórios de calibração, muitos dos quais acreditados pelo Inmetro. Interesse saber que o primeiro laboratório acreditado pelo Inmetro é da Aeronáutica (CAL001) na área dimensional.

No dia 25NOV foram apresentadas 16 sessões paralelas com cerca de 5 apresentações orais cada, além de uma sessão de pôsteres com mais de 80 trabalhos. Ao final do dia ocorreu o lançamento do livro “Metrologia e Incerteza de Medição – Conceitos e Aplicações“ de autoria de Alexandre Mendes e Pedro Paulo Rosário (editora LTC). Ambo autores são membros ativos da comunidade metrológica nacional.

O terceiro dia do congresso trouxe a palestra do Thomas Wiedenhöfer do PTB. O pesquisador alemão apresentou os avanços que a comunidade europeia tem desenvolvido na área de comunicação homem-máquina e máquina-máquina, destacando a importância da metrologia nessa processo. O sucesso da Indústria 4.0 foi mais uma vez atribuído à premente necessidade do desenvolvimento da Metrologia 4.0.

Em seguida o Prof. José Mauro Granjeiro, pesquisador do Inmetro, apresentou a instigante palestra “Bioengenharia e Bioprinting: metrologia para ampliar a inovação”. O tema principal foi o promissor, mas já real, método de tratamento de biológico tecidos e construção de órgãos por meio da manufatura aditiva (impressão 3D) de células. O Inmetro vem se destacando nessa atividade, estando em curso vários projetos de pesquisa, muitos dos quais com resultados animadores.

Após as palestras plenárias, o restante do dia foi dedicado ás sessões paralelas, durante as quais cerca de 100 trabalhos orais foram apresentados. O Workshop da Rede de Metrologia Química (Remeq) também foi realizado ao longo do dia.

O último dia do congresso começou com a brilhante palestra do Prof. Armando Albertazzi, professor da Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC). O tema foi o uso de óptica em metrologia, em particular em ambientes hostis para fins análise de peças e componentes mecânicos. Foi apresentado o estado da técnica em instrumentação óptica para ensaios não destrutivos, bem como aplicações futuras.

Em seguida a pesquisadora da L’Oreal, Nathália Ferro de Oliveira, apresentou uma pesquisa realizada pelo Centro de Pesquisa da companhia em parceria com o Programa de Pós-Graduação em Metrologia da PUC-Rio. O estudo é sobre o efeito da radiação solar em fios de cabelo em função de diversos diferentes tratamentos capilares. Vale mencionar que a L’Oreal investe cerca de 800 milhões de euros anualmente em pesquisa.

Ao longo do último dia houve a segunda sessão de pôsteres e mais 4 sessões paralelas. No total foram apresentados cerca de 350 artigos no Metrologia 2019.

O evento se encaminhou para seu encerramento com uma palestra sobre Metrologia Legal apresentada por Maurício Condessa, diretor substituto de Metrologia Legal do Inmetro. Foram mostrados e discutidos os esforços que o Inmetro vem fazendo para diminuir a possibilidade de fraudes de instrumentos de medição sob controle metrológico, tais como balanças e bombas de combustíveis. A perspectiva é aumentar o poder de fiscalização sem aumentar a quantidade de fiscais, investindo fortemente em tecnologia e informática.

A última atividade do Metrologia 2019 foi uma mesa redonda presidida pelo presidente do congresso, Americo Bernardes. Participaram da mesa Masao Ito, ex-presidente do Inmetro e representando a Associação Brasileira de Avaliação da Conformidade (ABRAC), Marco Aurélio Lima (Inmetro) e  Rutson Aquino (Fiat Chrysler Automóveis – FCA). O tema debatido foi sobre os desafios da qualidade 4.0 para os próximos anos. O consenso é que os esforços devem ser realizados no sentido de aproximar a inteligência artificial e automação de processos a fim de atender a crescente demanda da indústria por qualidade industrial, avaliação da conformidade e metrologia.

O Metrologia 2019 contou com diversos patrocinadores do setor industrial, tais como: Fluke Calibration, RP2M e Senai (patrocinadores Ouro); Certi, L’Oreal Brasil e WIKA (Prata); Mitutoyo e Pro-RAD (Bronze); e ABRAC, AKSO, CALI, Chrompack e Conformitá (Cobre). A próxima edição do evento será realizada em 2021 em local ainda a ser definido.

Crédito: Rodrigo Costa-Felix 29/11/2019

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2 Comentários

  1. Ou a presidente ficou preocupada escrevendo a Portaria 487 de 27/11/2019, e o pior é que ela não esclarece quais são as medidas cautelares.
    Que situação em presidente.

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